Chapter Opportunities of Scanning Probe Microscopy for Electrical, Mechanical and Electromechanical Research of Semiconductor Nanowires

In this chapter, three types of phenomena (electrical, mechanical, and electromechanical) that can be investigated in individual III–V semiconductor nanowires with scanning probe microscope are presented. Transport measurements in GaAs nanowires based on stable electric connection provided opportuni...

Szczegółowa specyfikacja

Opis bibliograficzny

Główni autorzy:	Geydt, Pavel, Dunaevskiy, M. S., Lähderanta, Erkki
Format:	Online
Język:	angielski
Wydane:	InTechOpen 2021
Hasła przedmiotowe:	scanning probe microscopy, AFM, PFM, current-voltage characteristics, Young’s modulus thema EDItEUR::P Mathematics and Science::PH Physics::PHF Materials / States of matter::PHFC Condensed matter physics (liquid state and solid state physics)
Dostęp online:	ONIX_20210602_10.5772/intechopen.68162_335
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!