Atomic Force Microscopy

With the advent of the atomic force microscope (AFM) came an extremely valuable analytical resource and technique useful for the qualitative and quantitative surface analysis with sub-nanometer resolution. In addition, samples studied with an AFM do not require any special pretreatments that may alt...

Повний опис

Бібліографічні деталі

Формат:	Online
Мова:	Англійська
Опубліковано:	IntechOpen 2021
Предмети:	Electrochemistry & magnetochemistry thema EDItEUR::P Mathematics and Science::PN Chemistry::PNF Analytical chemistry::PNFS Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry
Онлайн доступ:	ONIX_20210420_9789535104148_1231
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!