Electron Diffraction and Structural Imaging II

This Reprint continues to showcase the advances of electron diffraction (ED) and structural imaging as powerful methods for structural science. Enabled by Cs correctors, direct detection cameras, beam precession, 4DSTEM, and 3DED, these approaches now resolve structures of nanocrystals, beam-sensiti...

Szczegółowa specyfikacja

Opis bibliograficzny

Format:	Online
Język:	angielski
Wydane:	MDPI - Multidisciplinary Digital Publishing Institute 2026
Hasła przedmiotowe:	Nanomaterials Electron Diffraction 4DSTEM 3DED MicroED Serial ED Direct Detection Cameras Ptychography In Situ Atomic Imaging Symmetry thema EDItEUR::G Reference, Information and Interdisciplinary subjects::GP Research and information: general
Dostęp online:	ONIX_20260416T142754_9783725853618_3
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!