Fracture Toughness of Freestanding Metallic Thin Films Studied by Bulge Testing

Metallic thin films are nowadays frequently used as key components in microelectronic and microelectromechanical systems, so that the functionalities of these systems often depend on the structural integrity of the incorporated thin films. As a result, the fracture toughness of thin films becomes a...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Preiß, Eva
Médium: Online
Jazyk:angličtina
Vydáno: FAU University Press 2025
Témata:
On-line přístup:ONIX_20250828T094736_9783961471188_21
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!