Breitbandige Frequenzweichen für die Parallelisierung von Millimeterwellen-Messtechnik
This work describes the novel use of broadband continuous diplexers that could be integrated into on-wafer probes to parallize millimeter wave on-wafer measurement equipment. A model-based method for the efficient design of diplexers with a large number of adjustable parameters allows the realizatio...
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Online |
| Idioma: | alemany |
| Publicat: |
KIT Scientific Publishing
2021
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| Matèries: | |
| Accés en línia: | ONIX_20210723_9783731510789_7 |
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