Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen

Die Deflektometrie liefert Gestaltinformationen über spiegelnde Oberflächen durch Beobachtung von a priori bekannten Mustern. Zur automatischen Sichtprüfung von (teil)spiegelnden Objekten werden das Konzept der inversen Muster sowie Strategien zur Auswertung der deflektometrischen Registrierung präs...

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Библиографические подробности

Главный автор:	Werling, Stefan Bruno
Формат:	Online
Язык:	немецкий
Опубликовано:	KIT Scientific Publishing 2021
Предметы:	QA75.5-76.95 Oberflächenrekonstruktion spiegelnde Oberflächen Sichtprüfung Normalenfeld Deflektometrie bic Book Industry Communication::U Computing & information technology::UY Computer science
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